[发明专利]基于超声波的物体测厚方法、装置、系统、设备及介质在审
| 申请号： | 202011247688.5 | 申请日： | 2020-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN112433217A | 公开（公告）日： | 2021-03-02 |
| 发明（设计）人： | 吴东儒 | 申请（专利权）人： | 广州市东儒电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01S15/08 | 分类号： | G01S15/08;G01S7/536 |
| 代理公司： | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人： | 牟建鑫 |
| 地址： | 510700 广东省广州市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于超声波的物体测厚方法、装置、系统、设备及介质，其包括获取超声波在目标被测物中传播后的一次回波时间和二次回波时间，所述目标被测物为目标被测材料覆有覆盖物的被测物或目标被测材料未覆有覆盖物的被测物；根据所述一次回波时间和二次回波时间的时间差，以及预设的超声波在目标被测材料中的传播速度，确定所述目标被测材料的厚度。本发明能够消除涂层影响，准确测量物体厚度，真正做到无损检测。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 超声波 物体 方法 装置 系统 设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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