[发明专利]一种辐射粒子探测器器件结构在审

专利信息
申请号: 202011242677.8 申请日: 2020-11-09
公开(公告)号: CN112366246A 公开(公告)日: 2021-02-12
发明(设计)人: 廖永波;彭辰曦;李平;聂瑞宏;李垚森;冯轲;杨智尧;刘金铭;刘仰猛;刘玉婷;徐璐;曾祥和;胡兆晞;唐瑞枫;林凡;邹佳瑞 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L31/115 分类号: H01L31/115;H01L31/103;H01L31/0352;H01L27/144
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种辐射粒子探测器器件结构,涉及微电子技术和半导体技术。本发明的辐射粒子探测器器件结构在p型硅衬底表面设置有掺杂区,导电沟道和STI区,其中绝缘的STI区将导电沟道隔离开。本发明解决的技术问题是:提供一种辐射粒子探测器器件结构,在未受到辐照时,器件不导通,没有电流流过。在受到一定剂量的辐照后,STI区内产生大量正电荷,在STI与硅衬底交界面附近感应出一圈反型层,作为导电沟道,器件导通。本发明中的器件工作在p阱中,与其他器件隔离,且兼容CMOS工艺,可集成度高,可用于在太空空间中探测辐照。
搜索关键词: 一种 辐射 粒子 探测器 器件 结构
【主权项】:
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