[发明专利]背向反射式圆极化微波探测天线在审

专利信息
申请号: 202011236493.0 申请日: 2020-11-09
公开(公告)号: CN112332110A 公开(公告)日: 2021-02-05
发明(设计)人: 邹高迪;邹新 申请(专利权)人: 深圳迈睿智能科技有限公司
主分类号: H01Q19/10 分类号: H01Q19/10;H01Q15/14;H01Q1/48;H01Q1/36;H01Q1/38;H01Q1/52
代理公司: 宁波理文知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 33244 代理人: 孟湘明
地址: 518127 广东省深圳市宝安区*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一背向反射式圆极化微波探测天线,其中所述背向反射式圆极化微波探测天线包括一圆极化天线体和一背向反射腔体,其中所述圆极化天线体包括一辐射源和一参考地,其中所述辐射源与所述参考地相间隔,其中所述辐射源被圆极化设置,其中所述背向反射腔体具有形成于所述参考地至所述辐射源方向的一背向反射腔,其中所述背向反射腔于所述辐射源至所述参考地方向具有一电磁辐射口,其中所述圆极化天线体以所述辐射源背向所述电磁辐射口的状态被设置于所述背向反射腔体,以通过背向反射的方式,将副波瓣能量合成至主波束而形成对副波瓣的“抑制”效果,从而形成对所述背向反射式圆极化微波探测天线的抗干扰能力和增益的双重提升。
搜索关键词: 背向 反射 极化 微波 探测 天线
【主权项】:
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