[发明专利]一种基于偏振光腔衰荡的激光晶体热应力双折射系数测量方法在审
| 申请号： | 202011227730.7 | 申请日： | 2020-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN112345465A | 公开（公告）日： | 2021-02-09 |
| 发明（设计）人： | 李斌成;王静;肖石磊 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01N21/23 | 分类号： | G01N21/23 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于偏振光腔衰荡的激光晶体热应力双折射系数测量方法，采用激光照射加热激光晶体产生温度上升，采用偏振光腔衰荡方法测量激光晶体在不同温度时的热应力双折射相位差，从而获得激光晶体的热应力双折射系数。本方法利用偏振光腔衰荡方法测量应力双折射的高灵敏度和高精度特性，可以测量激光晶体非常低的热应力双折射和热应力双折射系数及其二维空间分布，从而大大提高了激光晶体低热应力双折射系数及其空间分布的测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 偏振光 腔衰荡 激光 晶体 应力 双折射 系数 测量方法 | ||
【主权项】：
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