[发明专利]一种提高混响室射频辐射敏感度校验精度的系统有效
| 申请号： | 202011200104.9 | 申请日： | 2020-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN112485538B | 公开（公告）日： | 2022-12-20 |
| 发明（设计）人： | 王葡萄;史庆伦 | 申请（专利权）人： | 飞特质科（北京）计量检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;G01R31/00 |
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| 地址： | 101399 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种可极大提高混响室射频辐射敏感度校验精度的系统，利用高场强辐射测试软件控制搅拌器旋转模式，以设定的间隔步进式旋转，在每个位置、每个频点处监测各个步进位置的场强值和最大正向功率值，记录各位置、各频点搅拌器旋转一周产生的最大场强值和最大正向功率值，并对监测结果进行归一化和均值处理，确定场均匀性。同时将目标场强值划分成N个阶段，从低至高依次校验，直至获得目标场强，最后依据校验数据计算期望场强下的最大正向功率。本发明有两大技术创新：一是搅拌器步进式旋转，解决了传统校验因搅拌器旋转造成监测结果不准的问题；二是目标场强分解，缩小了搅拌器在旋转过程中场强的变化范围，达到了减小校验误差的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提高 混响室 射频 辐射 敏感度 校验 精度 系统 | ||
【主权项】：
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