[发明专利]一种任意两点间的两端口元器件测量测试系统在审
| 申请号： | 202011192111.9 | 申请日： | 2020-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN112345854A | 公开（公告）日： | 2021-02-09 |
| 发明（设计）人： | 汤锐;黄腾;李奕恒;尤然;徐高飞;马飞 | 申请（专利权）人： | 北京航天光华电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/02;G01R1/04 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 胡健男 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种任意两点间的两端口元器件测量测试系统，包括电源部分、控制部分、动作部分、测量测试部分和对外接口；电源部分包括AC/DC电源模块和多路DC/DC隔离电源模块；控制部分包括操作显示模块和控制存储模块，以及隔离、驱动模块；对外接口是相关形式的连接器；动作部分包括测量测试点切换模块和模拟信号切换模块；测量测试部分包括AD采集处理模块和电压及基准模块；本发明通过测量测试点切换模块和模拟信号切换模块的设计，可以根据用户的需求对测量测试点切换模块的规模进行任意扩展，实现任意两点间的两端口元器件自动测量测试功能；测量测试点切换模块的设计实现了由最少的开关实现最多的测量测试点之间的任意切换功能，模拟信号切换模块的设计实现了任意两个测量测试点之间激励信号正、负的切换。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 任意 两点 端口 元器件 测量 测试 系统 | ||
【主权项】：
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