[发明专利]一种芯片的测试方法、终端和存储介质在审
| 申请号： | 202011188415.8 | 申请日： | 2020-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN112331253A | 公开（公告）日： | 2021-02-05 |
| 发明（设计）人： | 冯修圣;陈霖;刘敏;戴洋洋;陈宗廷;李斌 | 申请（专利权）人： | 深圳市宏旺微电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/10 | 分类号： | G11C29/10;G11C29/12;G11C29/44 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 唐佳芝 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请适用于计算机领域，提供了一种芯片的检测方法、终端和存储介质。其中，该芯片的检测方法包括：获取第一测试数据、测试地址和读写方式，所述测试地址为待测试芯片的数据存储地址；根据所述读写方式和所述测试地址，将所述第一测试数据写入至所述待测试芯片；根据所述读写方式，读取所述待测试芯片中所述测试地址指向的第一存储数据；比对所述第一存储数据与所述第一测试数据，并根据比对结果，确定所述待测试芯片的读写是否存在异常。本申请的实施例能够提高芯片测试的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 方法 终端 存储 介质 | ||
【主权项】：
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