[发明专利]标准单元的检测方法有效
| 申请号： | 202011187248.5 | 申请日： | 2020-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN112257383B | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 刘淼;李翊;李小静;梁津 | 申请（专利权）人： | 上海兆芯集成电路有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398;G06F30/394 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 徐协成 |
| 地址： | 201203 上海市张*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种标准单元的检测方法，适用于检测标准单元，该检测方法包括：对电路进行绕线阻塞分析而产生绕线阻塞报告；计数绕线阻塞报告中每类标准单元发生绕线阻塞的次数；确定发生绕线阻塞的次数大于一阈值的至少一类标准单元；以及对所述至少一类标准单元执行评估。 | ||
| 搜索关键词： | 标准 单元 检测 方法 | ||
【主权项】：
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