[发明专利]半导体器件、三维存储器及半导体器件制备方法有效

专利信息
申请号: 202011186371.5 申请日: 2020-10-29
公开(公告)号: CN112331653B 公开(公告)日: 2021-11-05
发明(设计)人: 陈亮 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11519 分类号: H01L27/11519;H01L27/11524;H01L27/11529;H01L27/11556;H01L27/11565;H01L27/1157;H01L27/11573;H01L27/11582
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 熊永强
地址: 430074 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供一种半导体器件、三维存储器及半导体器件制备方法,半导体器件包括衬底,多个栅极、与多个所述栅极对应的第一触点以及数个第二触点;多个所述栅极间隔设于所述衬底的表面上,且每两个相邻的所述栅极之间有间隔区,所述衬底的表面上设有位于所述间隔区的源极,每一所述栅极包括连接面,每一所述栅极的连接面上设有一个所述第一触点,所述第一触点在所述连接面的正投影呈长条状,且所述第一触点的长度延伸方向与所述栅极长度方向相同;数个所述第二触点设于所述衬底上,且位于所述间隔区内与所述源极连接,所述第二触点与所述第一触点结构相同,且所述第二触点与第一触点并列设置。
搜索关键词: 半导体器件 三维 存储器 制备 方法
【主权项】:
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