[发明专利]一种探测器非均匀校正方法和系统有效
| 申请号： | 202011178030.3 | 申请日： | 2020-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN111998958B | 公开（公告）日： | 2021-02-19 |
| 发明（设计）人： | 蔡李靖;黄尔齐;邓智威;字崇德;陈林森 | 申请（专利权）人： | 南京智谱科技有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00;G01J5/10 |
| 代理公司： | 北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙) 11017 | 代理人： | 韩登营 |
| 地址： | 210008 江苏省南京市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种探测器非均匀校正方法、系统、计算设备及存储介质，所述方法包括：对OCC参数列表中第一区域OCC数据中的每一列OCC数据进行同时校正，以使探测器阵列所有像素点输出的像素值的均值最接近预设像素目标值；和/或对OCC参数列表中的第二区域OCC数据中的每个OCC数据分别进行校正，以使每个OCC数据在探测器阵列对应的每个像素点输出的像素值最接近预设像素目标值。本申请提供的技术方案，在探测器成像时对其进行非均匀校正，可以提高校正精度，降低成像后校正的难度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 探测器 均匀 校正 方法 系统 | ||
【主权项】：
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