[发明专利]一种基于缺陷分析的精准测试分析方法、装置有效
| 申请号： | 202011174762.5 | 申请日： | 2020-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN112463584B | 公开（公告）日： | 2022-07-08 |
| 发明（设计）人： | 刘青杰 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人： | 李舜江 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于缺陷分析的精准测试分析方法、装置,该方法包括如下步骤：将缺陷样本进行缺陷预处理，分析出缺陷功能点；使用缺陷分析法计算缺陷功能点的遗留缺陷数；根据遗留缺陷数、满足功能出口条件的缺陷发现率及项目规划的测试时间，确定基础风险值；分析缺陷功能点的关联关系及关联概率，计算缺陷功能点的关联风险值；根据基础风险值、缺陷功能点的关联风险值，计算缺陷功能点的风险值；根据缺陷功能点的风险值选取测试用例。能有效的提升测试命中率，提升版本测试质量、效率，有效的保障产品固有的业务功能，为回归验证范围确定提供支持。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 缺陷 分析 精准 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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