[发明专利]预测存储器件寿命的方法、装置、终端设备和存储介质在审
| 申请号： | 202011102525.8 | 申请日： | 2020-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN112331249A | 公开（公告）日： | 2021-02-05 |
| 发明（设计）人： | 黄朝松 | 申请（专利权）人： | 深圳安捷丽新技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/34 | 分类号： | G11C16/34;G11C16/16 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 李木燕 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请适用于存储设备技术领域，提供了一种预测存储器件寿命的方法、装置、终端设备和存储介质。该预测存储器件寿命的方法包括：当检测到对存储器件的任一数据块执行数据处理操作时，采集所述数据处理操作的属性参数，所述数据处理操作包括数据写入操作和数据擦除操作；根据所述属性参数计算所述数据块的误码率及预期写入/擦除次数；若所述误码率超过第一阈值；或若所述误码率未超过所述第一阈值且所述预期写入/擦除次数超过第二阈值，则确定所述存储器件到达寿命终点。本申请通过计算数据块的误码率判断存储器件的寿命是否到达终点，能够提高对存储器件寿命预测的准确性，提高存储器件的利用率。 | ||
| 搜索关键词： | 预测 存储 器件 寿命 方法 装置 终端设备 介质 | ||
【主权项】：
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