[发明专利]电子模块的检测系统、检测方法、检测装置及存储介质在审
申请号: | 202011048442.5 | 申请日: | 2020-09-29 |
公开(公告)号: | CN112213582A | 公开(公告)日: | 2021-01-12 |
发明(设计)人: | 王志强;付青琴;刘佳;王于波;庞振江;李延;梁昭庆;曲胜波 | 申请(专利权)人: | 北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司;国家电网有限公司;北京智芯半导体科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R31/28 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 肖冰滨;王晓晓 |
地址: | 100192 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开一种电子模块的检测系统,该系统包括:参数设置模块,与待检测的电子模块电连接,用于获取第一设置操作,基于第一设置操作生成并设置电子模块的模块参数,模块参数包括频率参数和/或电压参数;控制模块,与电子模块电连接,用于实时控制电子模块按照模块参数运行;检测模块,与电子模块电连接,用于对运行中的电子模块执行检测操作,获得对应的检测结果。本发明还公开一种电子模块的检测方法及一种电子模块的检测装置。通过采用宽压高速MCU对电子模块的工作电压和/或工作频率进行调整测试,从而对在工作频率或工作电压的干扰下运行的电子模块进行模拟并进行检测,从而有效保证了对电子模块的检测完整度,满足技术人员的实际检测需求。 | ||
搜索关键词: | 电子 模块 检测 系统 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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