[发明专利]基于稀疏子孔径夏克-哈特曼波前传感器的深度学习波前复原方法在审

专利信息
申请号: 202011030798.6 申请日: 2020-09-27
公开(公告)号: CN112179503A 公开(公告)日: 2021-01-05
发明(设计)人: 邱学晶;杨超;许冰 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01J9/00 分类号: G01J9/00;G06N3/04;G06N3/08;G06T5/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 杨学明
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种基于稀疏子孔径夏克‑哈特曼波前传感器的深度学习波前复原方法。传统夏克‑哈特曼波前传感器测量精度受限于微透镜阵列空间采样率,为了保证探测精度,通常采用高密度微透镜阵列以提高空间采样率。但过高的空间采样率会降低子孔径信噪比,反而限制了波前复原精度。深度学习可自提取图像深层特征,可被用于拟合远场光强分布到波前像差信息的映射。基于此,本发明基于深度学习设计了一种光能利用率高、实时性好、复原精度高的2×2稀疏子孔径夏克‑哈特曼波前传感器,引入深度学习替代原有的模式复原过程,实现高精度快速波前复原。
搜索关键词: 基于 稀疏 孔径 哈特曼波前 传感器 深度 学习 复原 方法
【主权项】:
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