[发明专利]一种MCU的DMA压力测试方法、设备及存储介质有效
| 申请号： | 202011014185.3 | 申请日： | 2020-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN112162890B | 公开（公告）日： | 2021-09-21 |
| 发明（设计）人： | 毛海旭;王翔;刘吉平 | 申请（专利权）人： | 深圳市航顺芯片技术研发有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/36 |
| 代理公司： | 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 | 代理人： | 吴志益;孙果 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区平湖街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明所提供的一种MCU的DMA压力测试方法、设备及存储介质，包括：与待测MCU建立连接，按照预先选择的压力测试项目控制待测MCU进行DMA压力测试；当接收到待测MCU发送的启动发送指令时，根据所述启动发送指令获取待测MCU采集的DMA压力测试数据；对所述DMA压力测试数据进行图形显示分析，并将分析后的结果数据进行存储。本发明通过与待测MCU建立连接，通过发送响应的指令来控制待测MCU，使得MCU做出响应的操作，以得出MCU的DMA性能情况，并且，可以选择压力测试项目，提供了更为详细和全面的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 mcu dma 压力 测试 方法 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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