[发明专利]一种采用价带谱进行X射线光电子能谱校正的方法有效
| 申请号： | 202010960652.5 | 申请日： | 2020-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN112098447B | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 刘建;郝俊英;刘维民 | 申请（专利权）人： | 中国科学院兰州化学物理研究所;青岛市资源化学与新材料研究中心(中国科学院兰州化学物理研究所青岛研究发展中心) |
| 主分类号： | G01N23/2273 | 分类号： | G01N23/2273 |
| 代理公司： | 北京一格知识产权代理事务所(普通合伙) 11316 | 代理人： | 赵永伟;李魏英 |
| 地址： | 730000 甘*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
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| 摘要： | 一种采用价带谱进行X射线光电子能谱校正的方法，包括以下步骤：(1)采用X射线光电子能谱仪对材料进行特征X射线光电子能谱及价带谱的扫描，得到高分辨的谱图测试特征X射线光电子能谱及价带谱；(2)从所述的测试特征X射线光电子能谱及价带谱谱图上识别出材料中各元素特征峰的位置，并以切线相交方式从步骤(1)检测的价带谱得到材料的测试带隙数值；(3)查阅文献及书籍，得到材料的标准带隙数值；(4)将所述的标准带隙数值减去所述的测试带隙值得到的差值进行移动，得到材料真实的特征X射线光电子能谱。本发明采用价带谱进行X射线光电子能谱校正，发展了X射线光电子能谱校正的方法，得到了材料真实的特征X射线光电子能谱。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 采用 价带 进行 射线 光电子 校正 方法 | ||
【主权项】：
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