[发明专利]一种氧化铜膜/硅晶片复合结构及其制备方法有效
申请号: | 202010927732.0 | 申请日: | 2020-09-07 |
公开(公告)号: | CN112030109B | 公开(公告)日: | 2022-07-29 |
发明(设计)人: | 韦江;王佳伟;胡强;程香平;陆磊;张友亮;焦斌斌;刘觐 | 申请(专利权)人: | 江西省科学院应用物理研究所 |
主分类号: | C23C14/16 | 分类号: | C23C14/16;C23C14/35;C23C14/58 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 刘奇 |
地址: | 330000 江西省南昌市*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | 本发明提供了一种氧化铜膜/硅晶片复合结构及其制备方法,涉及纳米薄膜材料制备技术领域。本发明以磁控溅射的方法在硅晶片上沉积铜,使铜膜均匀的沉积在硅晶片上;所述铜膜/硅晶片结构在臭氧条件下进行氧化反应,能够将铜膜中的铜氧化成为氧化铜;再经后续的热处理,使得氧化铜膜与硅晶片基底之间的结合强度变强。本发明提供的氧化铜膜/硅晶片复合结构的氧化铜膜为纳米尺寸氧化铜堆积而成,所述纳米尺寸氧化铜的结构为纳米片状结构或颗粒状结构,且纳米片状结构的厚度为100~200nm,纳米颗粒结构的尺寸为200~300nm。在本发明中,所述氧化铜膜与硅晶片的膜基结合力大于100μN,结合稳定、不脱落不分离。 | ||
搜索关键词: | 一种 氧化铜 晶片 复合 结构 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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