[发明专利]校验摄像头模组性能测试设备的方法、介质和电子设备在审
申请号: | 202010893904.7 | 申请日: | 2020-08-31 |
公开(公告)号: | CN112040224A | 公开(公告)日: | 2020-12-04 |
发明(设计)人: | 岳华辉;李超玉 | 申请(专利权)人: | 南昌欧菲晶润科技有限公司 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00 |
代理公司: | 北京景闻知识产权代理有限公司 11742 | 代理人: | 朱鸿雁 |
地址: | 330000 江西省南昌市南昌高新技*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | 本发明公开了一种校验摄像头模组性能测试设备的方法、介质和电子设备,所述校验摄像头模组性能测试设备的方法,包括,获取第一组SFR值和第二组SFR值,其中,所述第一组SFR值为基于摄像头模组多个不同物距下待校验测试设备获得的测试图像得到,所述第二组SFR值为基于所述摄像头模组多个不同物距下标准测试设备获得的测试图像获得;根据所述第一组SFR值和所述第二组SFR值获得所述待校验测试设备与所述标准测试设备的峰值测试偏差值;根据所述峰值测试偏差值校正所述待校验测试设备的SFR值与物距的关系式。该方法,在摄像头模组产品出现离焦的情况下,可以提高待校验测试设备的校验精度。 | ||
搜索关键词: | 校验 摄像头 模组 性能 测试 设备 方法 介质 电子设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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