[发明专利]一种可用于建立坐标系的测量基准器有效

专利信息
申请号: 202010749205.5 申请日: 2020-07-30
公开(公告)号: CN111854713B 公开(公告)日: 2021-08-20
发明(设计)人: 罗敬;张晓辉;何煦 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01C15/00 分类号: G01C15/00;G01C1/02
代理公司: 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 代理人: 李青
地址: 130000 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 一种可用于建立坐标系的测量基准器,属于光学及精密机械装调技术领域,解决了建立立方棱镜测量坐标系存在的效率低、操作不便、精度不足等问题。该基准器包括:模块底座、立方棱镜安装底座、立方棱镜、角锥棱镜安装底座和角锥棱镜;立方棱镜通过立方棱镜安装底座安装在模块底座上,角锥棱镜通过角锥棱镜安装底座安装在模块底座上,立方棱镜和角锥棱镜设置在模块底座的两端,保持立方棱镜与角锥棱镜相对位姿关系恒定,并使立方棱镜除安装面以外的表面的法线不被遮挡;本发明利用经纬仪和激光跟踪仪瞄准该标准器,无需拟合和计算,可以直接同时获得坐标轴朝向和坐标原点位置,进而建立坐标系,大幅度提高了装调精度和效率。
搜索关键词: 一种 用于 建立 坐标系 测量 基准
【主权项】:
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