[发明专利]状态评估方法、计算机设备和存储介质在审
申请号: | 202010741561.2 | 申请日: | 2020-07-29 |
公开(公告)号: | CN111859699A | 公开(公告)日: | 2020-10-30 |
发明(设计)人: | 祝令瑜;占草;刘琛硕;代建港;刘占磊;凌培恩 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20 |
代理公司: | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人: | 赵文静 |
地址: | 710001 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明涉及一种状态评估方法、计算机设备和存储介质。该状态评估方法包括:建立绝缘栅双极性晶体管的结构模型;根据结构模型,建立其力学模型、传热模型和电流焦耳热模型;通过接触电阻模型和接触热阻模型,将学模型、传热模型和电流焦耳热模型,得到绝缘栅双极性晶体管的热场分布情况;代入边界条件,得到绝缘栅双极性晶体管的热场评估结果。该状态评估方法,可以用边界条件表征绝缘栅双极性晶体管的微动磨损,从而得到基于微动磨损的绝缘栅双极性晶体管的热场评估结果,进而基于微动磨损对绝缘栅双极性晶体管的失效机理进行评估。 | ||
搜索关键词: | 状态 评估 方法 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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