[发明专利]一种总α和总β放射性测量样品制备装置及方法在审
| 申请号： | 202010714123.7 | 申请日： | 2020-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN111624077A | 公开（公告）日： | 2020-09-04 |
| 发明（设计）人： | 欧频;俞添虹;黄丽芳;李昱丞;郑雪婷 | 申请（专利权）人： | 欧频 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01T1/167 |
| 代理公司： | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 | 代理人： | 何志欣 |
| 地址： | 516008 广东省惠州市惠*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种总α和总β放射性测量样品制备装置及方法，装置包括磨样器和铺样器。其中：磨样器，用于能够将待测固体样品磨碎成符合铺样器制样目数要求的待测灰样，铺样器，用于将待测灰样制备成厚度相对均匀的待测样品源，铺样器包括样品盘和刮片，刮片与样品盘之间的高度限定出待测样品源的制成厚度，从而在刮片和样品盘彼此相对转动的情况下，刮片能够将待测灰样制成厚度相对均匀的待测样品源。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 放射性 测量 样品 制备 装置 方法 | ||
【主权项】：
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