[发明专利]一种金属结构镀层质量控制方法有效

专利信息
申请号: 202010675642.7 申请日: 2020-07-14
公开(公告)号: CN111929296B 公开(公告)日: 2022-10-14
发明(设计)人: 高凤林;杨海鑫;邹鹤飞;王志东;成志富;朱平萍;洪园;刘威;胡博;路春泽 申请(专利权)人: 首都航天机械有限公司
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;G01N21/88;G01N19/04;G01N15/08;G01N33/208;G01B11/06;C25D17/00;C25D21/12;C25D5/18;C25D21/08
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 陈鹏
地址: 100076 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种金属结构镀层质量控制方法,包括:外观检测:采用放大光学设备对金属结构镀层进行外观检测;厚度均匀性分析试验:采用金相显微镜法对零件镀层进行厚度均匀性分析;镀层结合力试验:摩擦镀层表面、和/或在刷光机上用细金属轮刷光镀层表面、和/或对镀层加热,观察镀层表面是否存在起泡、起皮或者脱落;镀层孔隙率试验:将浓盐酸溶液滴至镀层表面,观察镀层表面是否有气泡出现。通过对金属结构镀层的外观、厚度均匀性、镀层结合力和镀层孔隙率进行考察和质量监控,可以保证后续钎焊的顺利实施以及钎焊后结构件在特定应用环境中的使用要求。
搜索关键词: 一种 金属结构 镀层 质量 控制 方法
【主权项】:
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