[发明专利]光学相干断层装置、其控制方法、光测量方法及存储介质在审
| 申请号： | 202010640964.8 | 申请日： | 2020-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN112205962A | 公开（公告）日： | 2021-01-12 |
| 发明（设计）人： | 酒井润;三野聪大 | 申请（专利权）人： | 株式会社拓普康 |
| 主分类号： | A61B3/10 | 分类号： | A61B3/10;A61B3/12;A61B3/14;A61B3/135 |
| 代理公司： | 北京钲霖知识产权代理有限公司 11722 | 代理人： | 李英艳;玉昌峰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开一种光学相干断层装置、其控制方法、光测量方法及存储介质。消除由光扫描仪引起的相位信息误差。例示性的光学相干断层(OCT)装置包括扫描部、控制部、相位信息生成部和相位信息处理部。扫描部借助光扫描仪对物体适用OCT扫描。控制部使扫描部执行在第一扫描方向上扫描物体的断面的第一扫描和在与第一扫描方向相反的第二扫描方向上扫描物体的断面的第二扫描。相位信息生成部根据通过第一扫描收集到的第一收集数据生成第一相位信息，根据通过第二扫描收集到的第二收集数据生成第二相位信息。相位信息处理部基于第一相位信息和第二相位信息生成合成相位信息。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 相干 断层 装置 控制 方法 测量方法 存储 介质 | ||
【主权项】：
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