[发明专利]一种管芯封装结构及其制备方法有效
申请号: | 202010635228.3 | 申请日: | 2020-07-03 |
公开(公告)号: | CN111799185B | 公开(公告)日: | 2022-04-19 |
发明(设计)人: | 徐彩芬;汤亚勇;苏华 | 申请(专利权)人: | 徐彩芬 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/56;H01L21/60;H01L23/31 |
代理公司: | 苏州市港澄专利代理事务所(普通合伙) 32304 | 代理人: | 马丽丽 |
地址: | 215600 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种管芯封装结构及其制备方法,该方法包括以下步骤:在所述承载基板上设置临时粘结层、重分布线路层以及半导体管芯,在所述半导体管芯的侧面形成多个平行排列的第一凹槽,在所述半导体管芯的上表面形成多个平行排列的第二凹槽;接着在所述半导体管芯上依次形成第一介质层、第一金属层、第二介质层以及第二金属层,接着在所述承载基板上形成第一封装树脂层以及第二封装树脂层,接着进行热处理,接着在所述第一封装树脂层和所述第二封装树脂层中形成暴露所述重分布线路层的开槽,接着在所述开槽中沉积导电材料以形成导电柱,并使得所述导电柱与所述半导体管芯的所述侧面之间的净距小于20微米。 | ||
搜索关键词: | 一种 管芯 封装 结构 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于徐彩芬,未经徐彩芬许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010635228.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种胃蛋白酶提取方法
- 下一篇:光学生物传感器及COVID-19病毒检测装置
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造