[发明专利]一种SoC芯片验证测试系统及方法有效
| 申请号： | 202010616612.9 | 申请日： | 2020-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN111858207B | 公开（公告）日： | 2022-03-22 |
| 发明（设计）人： | 任智新;李仁刚;张闯;谢志勇;孙颉 | 申请（专利权）人： | 浪潮（北京）电子信息产业有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/263 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王云晓 |
| 地址： | 100085 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种SoC芯片验证测试系统及方法。本申请公开的系统包括：控制端，以及与控制端连接的多个验证测试平台，控制端用于发送同一个控制指令给至少两个验证测试平台，以使至少两个验证测试平台对SoC芯片的同一个功能点进行验证或测试，获得至少两个操作结果；控制端还用于接收并对比至少两个操作结果，获得对比结果，将对比结果和至少两个操作结果记录至功能点的递归表，并将递归表存储至数据库。本申请可以方便技术人员调取验证测试数据进行分析，为SoC芯片的设计和修改完善提供了可靠的数据支持，也可以避免因某个验证测试平台不稳定而导致的操作结果记录错误，提高了系统的稳定性，保障了验证结果和测试结果的正确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 soc 芯片 验证 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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