[发明专利]一种测试电路及芯片有效
| 申请号： | 202010600867.6 | 申请日： | 2020-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN111751707B | 公开（公告）日： | 2023-04-25 |
| 发明（设计）人： | 杜占坤;吕循洪 | 申请（专利权）人： | 芯佰微电子（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京绥正律师事务所 11776 | 代理人： | 吕平 |
| 地址： | 100094 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试电路及芯片，测试电路包括系统单元和测试单元；控制模块通过收发模块向传输模块发送测试信息；处理模块通过传输模块接收测试信息，调用元件库模块和逻辑库模块生成模拟电路，调用测试模块对模拟电路进行测试，得到模拟测试结果，通过传输模块将模拟测试结果反馈到控制模块；在确定模拟测试结果正常时，通过测试线路连接待测试的芯片，根据测试信息对芯片进行测试。通过控制模块以测试线路连接待测试的芯片，配合提升了芯片测试的通用性，配合生成模拟电路，能够在测试之前进行模拟，因此在测试之前对芯片进行了保护，避免了由于测试而导致损坏芯片，而且采用测试信息可以针对芯片的特殊结构或功能进行单独测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 电路 芯片 | ||
【主权项】：
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