[发明专利]一种基于超导纳米线光子探测阵列的电荷积分成像方法有效

专利信息
申请号: 202010595694.3 申请日: 2020-06-28
公开(公告)号: CN111721408B 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: 张蜡宝;印睿;张彪;郭书亚;谭静柔;葛睿;康琳;吴培亨 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42
代理公司: 南京知识律师事务所 32207 代理人: 康翔
地址: 210023 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于超导纳米线光子探测阵列的电荷积分成像方法,采用超导纳米线单光子探测器作为阵元,组成超导纳米线光子探测阵列,阵元的数量可调整;采用透镜阵列作为光学对位系统,将透射光分成与阵元数量相等的多光束,分别汇聚到超导纳米线探测区域;采用脉冲式激光器探测物体表面,将物体表面反射的不同光脉冲透过透镜阵列,记录每个光子的往返时间;采集各阵元探测的光子数,将阵元作为像元,由阵元的光子数计算像元的灰度值;将像元作为像素点绘制灰度图,由每个光子的往返时间计算物体和像素点的距离,根据灰度图和物像距离重建物体的三维图像。
搜索关键词: 一种 基于 导纳 米线 光子 探测 阵列 电荷 积分 成像 方法
【主权项】:
暂无信息
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