[发明专利]颗粒物污染的源解析方法和装置有效

专利信息
申请号: 202010594657.0 申请日: 2020-06-24
公开(公告)号: CN111753426B 公开(公告)日: 2021-07-16
发明(设计)人: 李蔷;牛建军;孙明生;易志安;李诗瑶;秦东明;李璇;张言云;杨帆;曹宁 申请(专利权)人: 中科三清科技有限公司;牛建军
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G16C10/00;G16C20/70
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 张萌
地址: 100193 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种颗粒物污染的源解析方法和装置,涉及污染源解析的技术领域,包括获取气象数据、目标区域对应的颗粒物以及颗粒物的组分数据;基于颗粒物及组分数据,并根据受体模型解析得到污染源浓度数据;基于气象数据进行图像模拟,确定影响目标区域的气团轨迹;基于气团轨迹和污染源浓度数据确定目标区域中污染源的潜在来源及浓度权重。通过受体模型获得目标区域的污染源数据以及基于气象数据获得目标区域的气团轨迹,通过潜在源贡献分析法得到对目标区域污染源造成影响的潜在源区,解决污染来源的区域传输问题。
搜索关键词: 颗粒 污染 解析 方法 装置
【主权项】:
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