[发明专利]一种多方案内存插拔测试方法、系统、终端及存储介质在审
| 申请号： | 202010567060.7 | 申请日： | 2020-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN111858198A | 公开（公告）日： | 2020-10-30 |
| 发明（设计）人： | 温霞 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F9/4401 |
| 代理公司： | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人： | 孙玉营 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种多方案内存插拔测试方法、系统、终端及存储介质，包括：根据多种待测内存插法配置多种相应的插拔方案；根据待执行插拔方案通过BIOS设置待测机各内存插槽的状态；采集待测机当前所有可识别内存信息，并判断所述内存信息是否达到预设测试标准，若达到则判定所述待执行插拔方案通过测试；轮循执行所有插拔方案，并输出所有插拔方案执行过程中生成的测试结果。本发明可以很大程度提高测试速度及测试结果稳定性，且对于内存插法测试一次搭建环境，一次执行，便可以覆盖所有内存插法测试场景，一键测试，节省人力，方便记录汇总测试结果并且可以减少人工操作可能带来的结果的不准确，信息的误差等问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 多方 内存 测试 方法 系统 终端 存储 介质 | ||
【主权项】：
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