[发明专利]实现超高消光比系数的金光栅及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202010545103.1 申请日: 2020-06-16
公开(公告)号: CN111766654A 公开(公告)日: 2020-10-13
发明(设计)人: 陈宜方;杨宗耀;朱静远 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: G02B5/18 分类号: G02B5/18
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 陆飞;陆尤
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明属于光栅技术领域,具体为一种实现超高消光比系数的金光栅及其制备方法。本发明方法包括:在双抛硅衬底上生长铬/金电镀种子层;在硅衬底上旋涂厚度1‑1.8微米的PMMA正性光刻胶;利用Tracer软件中的蒙地卡罗模型计算空间电荷分布,采用LAB软件计算大高宽比光刻胶剖面形貌;采用曝光图案增添加强筋的方法保证光刻胶垂直性和完整性;利用电子束光刻机实施曝光;进行显影,然后用IPA漂洗,获得光刻胶光栅结构;以光刻胶为掩膜,进行纳米电镀金,得到金光栅。该金光栅在200纳米的周期下拥有8:1至18:1的大高宽比,占空比为0.3‑0.7,可以作为在近红外波段对电磁波的偏振起偏器,其起偏消光系数上最大可达1014:1。
搜索关键词: 实现 超高 系数 金光 及其 制备 方法
【主权项】:
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