[发明专利]一种芯片验证方法、装置、芯片及存储介质有效
| 申请号： | 202010540313.1 | 申请日： | 2020-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN111858306B | 公开（公告）日： | 2023-10-27 |
| 发明（设计）人： | 杨晶晶 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463 | 代理人： | 唐正瑜 |
| 地址： | 300450 天津市滨海新区华苑产*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本申请提供一种芯片验证方法、装置、芯片及存储介质，所述芯片包括验证系统，验证系统包括子系统层级的验证环境以及IP核层级的验证环境，子系统层级的验证环境以及IP核层级的验证环境包括其对应的测试场景层，子系统层级的测试场景层和IP核层的测试场景层复用核心环境层，方法应用于芯片，包括：通过IP核层的测试场景层以及子系统层级的测试场景层获取待测试用例的参数信息；根据参数信息获取待测试用例对应的多个操作执行信息；通过核心环境层根据多个操作执行信息从封装在核心环境层中的多个验证组件中确定多个目标验证组件；通过核心环境层将每个操作执行信息分配给对应的目标验证组件，以对待测试用例进行验证。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 验证 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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