[发明专利]三维存储器的制作方法有效
申请号: | 202010516676.1 | 申请日: | 2020-06-09 |
公开(公告)号: | CN111640761B | 公开(公告)日: | 2021-06-22 |
发明(设计)人: | 王健舻;曾明;杨星梅 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/11568 | 分类号: | H01L27/11568;H01L27/11582 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 张海明;臧建明 |
地址: | 430078 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供了一种三维存储器的制作方法,属于半导体存储技术领域,其旨在解决对位于沟道孔底部的沟道结构进行开口时,损伤位于沟道孔的侧壁上的功能层的问题。所述制作方法包括以下步骤:提供衬底;在衬底上堆叠形成至少两个叠层结构,以及形成贯穿各叠层结构的沟道孔;在沟道孔内形成功能层并在功能层的内侧壁上形成第一保护层;刻蚀去除位于沟道孔的底部的功能层,形成延伸至衬底的通孔;其中,功能层与第一保护层的刻蚀选择比大于1。本发明提供的三维存储器的制作方法,以沟道孔为刻蚀通道对功能层的底部进行开口时,可避免损伤形成在沟道孔的侧壁上功能层,提高三维存储器的良率和可靠性。 | ||
搜索关键词: | 三维 存储器 制作方法 | ||
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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