[发明专利]老化感知的电路优化方法与系统在审
| 申请号： | 202010515419.6 | 申请日： | 2020-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN111651949A | 公开（公告）日： | 2020-09-11 |
| 发明（设计）人： | 吴玉平;陈岚 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G06F30/337 | 分类号： | G06F30/337;G06F30/3308;G06F119/04 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 刘歌 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种老化感知的电路优化方法与系统，该电路优化方法包括优化零老化状态电路；根据电路的设计工作寿命估算出电路中各器件的最终老化状态；在零老化状态优化电路的基础上根据各器件最终的老化状态进行电路优化。本发明缩小了电路设计优化探索空间，加速长工作寿命电路的设计收敛，缩短设计时间；减少了不必要的设计裕量，降低了设计功耗，缩小了设计面积。 | ||
| 搜索关键词： | 老化 感知 电路 优化 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所，未经中国科学院微电子研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010515419.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
