[发明专利]一种单点校准测量系统的测量不确定度的评定方法有效

专利信息
申请号: 202010468962.5 申请日: 2020-05-28
公开(公告)号: CN111751313B 公开(公告)日: 2023-03-07
发明(设计)人: 刘攀;张毅;张健豪;张欣耀 申请(专利权)人: 中国船舶重工集团公司第七二五研究所
主分类号: G01N21/3563 分类号: G01N21/3563;G01N31/12;G01N25/18;G06F17/18
代理公司: 北京市中联创和知识产权代理有限公司 11364 代理人: 李向阳;王铮
地址: 471000 河南*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明涉及一种单点校准测量系统的测量不确定度的评定方法,利用蒙特卡洛法(MCM)评定单点校准测量系统的测量不确定度的定量数学模型,与各输入量概率分布的传递关系和参数赋值原则,通过在测量模型中以概率分布的形式输入标准物质认定值、标准物质和实际样品的用量、随机效应修正因子或相对随机误差、信号响应值,利用MCM进行随机抽样与模拟运算,输出测量结果的相关统计量、概率分布、不确定度信息。本发明通过引入两个随机效应修正因子e或相对随机误差δ表征条件变异和系统波动对校准用标准物质和实际样品测量重复性的影响,解决了MCM评定单点校准测量系统测量不确定度的模型构建与校准引入不确定度的量值导入等关键问题。
搜索关键词: 一种 单点 校准 测量 系统 不确定 评定 方法
【主权项】:
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