[发明专利]一种基于MDTD的显微热成像系统性能评价方法及系统在审
| 申请号： | 202010461123.0 | 申请日： | 2020-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN111579213A | 公开（公告）日： | 2020-08-25 |
| 发明（设计）人： | 高美静;张博智;韩颖;闫齐崇 | 申请（专利权）人： | 燕山大学 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G01J5/00 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 杜阳阳 |
| 地址： | 066000 河北省*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于MDTD的显微热成像系统性能评价方法及系统。所述方法包括获取待测目标辐射的光路参数和背景辐射的光路参数以及显微热成像系统的参数；根据所述待测目标辐射的光路参数和所述背景辐射的光路参数确定所述待测目标和所述背景在所述探测器单元上的光谱辐射通量差；根据所述光谱辐射通量差和所述显微热成像系统的参数确定所述显微热成像系统的噪声等效温差；根据所述噪声等效温差和所述显微热成像系统的参数确定最小可探测温差；根据所述最小可探测温差对所述显微热成像系统的温度分辨能力进行评价。本发明所提供的一种基于MDTD的显微热成像系统性能评价方法及系统，提高对显微热成像系统性能评价的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 mdtd 显微 成像 系统 性能 评价 方法 | ||
【主权项】：
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