[发明专利]纳米晶材料检测系统有效
| 申请号： | 202010441497.6 | 申请日： | 2020-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN111573275B | 公开（公告）日： | 2022-03-25 |
| 发明（设计）人： | 蒙海;魏子健;闻刘勇;任潇;周明;曹葵康;蔡雄飞;徐一华 | 申请（专利权）人： | 苏州天准科技股份有限公司 |
| 主分类号： | B65G47/91 | 分类号： | B65G47/91;B65G29/00;B65B69/00;B65H18/08;G01D21/02 |
| 代理公司： | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人： | 徐颖聪 |
| 地址： | 215000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种纳米晶材料检测系统，从上游至下游依次包括剥料设备、搬运设备、纳米晶材料检测设备及下料设备，所述剥料设备，用于对含有纳米晶材料的来料进行剥料，所述来料由从上至下依次层叠的隔离膜、纳米晶材料、基膜所形成的层状材料卷绕形成的料卷；所述搬运设备，用于将经过所述剥料设备剥料后的纳米晶材料搬运至纳米晶材料检测设备；纳米晶材料检测设备，用于将所述搬运设备搬运过来的所述纳米晶材料进行检测；所述下料设备，用于将经过所述纳米晶材料检测设备检测的纳米晶材料进行下料。根据本发明的纳米晶材料检测系统，能够自动化快速地进行剥离、搬运纳米晶材料、检测纳米晶材料及下料，效率高、稳定性好，节省人力。 | ||
| 搜索关键词： | 纳米 材料 检测 系统 | ||
【主权项】：
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