[发明专利]一种射频测试方法、装置、电子设备及可读存储介质有效
| 申请号： | 202010435685.8 | 申请日： | 2020-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN111614412B | 公开（公告）日： | 2022-04-15 |
| 发明（设计）人： | 臧其甫;王建;杨威;朱旭东;陈军 | 申请（专利权）人： | 上海华兴数字科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/15 | 分类号： | H04B17/15;H04B17/29 |
| 代理公司： | 北京布瑞知识产权代理有限公司 11505 | 代理人： | 李浩 |
| 地址： | 200120 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种射频测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，其中，所述射频测试方法包括：向待测终端内部的采样电路输入测试电压；在测试电压作用下，监测采样电路在射频测试过程中所输出的电压波形；基于电压波形，检测采样电路是否受到射频干扰；在确定采样电路未受到射频干扰的情况下，测试待测终端的射频参数，并基于射频参数，确定待测终端的射频性能。这样，通过输入测试电压的方式进行测试，在射频测试过程中可以确保待测终端内部的采样电路不受到射频干扰，使测试结果能够准确地反映待测终端的射频性能，从而为待测终端的后续优化提供方向和理论依据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射频 测试 方法 装置 电子设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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