[发明专利]电阻测试电路及电阻测试方法在审
| 申请号： | 202010435210.9 | 申请日： | 2020-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN113702711A | 公开（公告）日： | 2021-11-26 |
| 发明（设计）人： | 周健 | 申请（专利权）人： | 圣邦微电子（北京）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/14 | 分类号： | G01R27/14;G01R1/30 |
| 代理公司： | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人： | 蔡纯;张靖琳 |
| 地址： | 100089 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及电阻测量技术领域，提供了一种电阻测试电路及电阻测试方法，用于测量两个被测电阻的电阻差值，该电阻测试电路包括：分压模块，包括串联于供电端与地之间的电流源、标准电阻、第一待测电阻和第二待测电阻；第一测试模块，根据该标准电阻两端的电压生成第一测试电压；第二测试模块，根据该第一待测电阻两端的电压和该第二待测电阻两端的电压生成第二测试电压，其中，该第二测试电压表征该第一待测电阻和第二待测电阻的电阻差值，该电阻测试电路根据该标准电阻的阻值、该第一测试电压和该第二测试电压获得第一待测电阻和第二待测电阻的电阻差值。由此提高了可实现两个被测电阻差值测量的电路的测量精度及该电路的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 电阻 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
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