[发明专利]一种测试用例设计方法及装置有效
| 申请号： | 202010435192.4 | 申请日： | 2020-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN111597081B | 公开（公告）日： | 2023-07-14 |
| 发明（设计）人： | 张智斌;邓郡 | 申请（专利权）人： | 北京润科通用技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 张娜 |
| 地址： | 100192 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供的测试用例设计方法及装置，创建第一电子系统的包含第一变量的工程变量库，支持用户设计面向第一变量的测试用例，再基于第一变量与ICD域的映射关系，将通用的面向第一变量的测试用例自动转换为面向ICD域的测试用例。本申请将面向变量的测试用例和ICD域解耦，实现电子系统测试用例的通用化和标准化，这就极大减少了开发、调试的工作量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 设计 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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