[发明专利]一种提高温度补偿晶振稳定度的测试方法在审
| 申请号： | 202010430474.5 | 申请日： | 2020-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN111669126A | 公开（公告）日： | 2020-09-15 |
| 发明（设计）人： | 罗海杰 | 申请（专利权）人： | 成都恒晶科技有限公司 |
| 主分类号： | H03B5/04 | 分类号： | H03B5/04 |
| 代理公司： | 北京和联顺知识产权代理有限公司 11621 | 代理人： | 吴帅;李素红 |
| 地址： | 610000 四川省成都市高新区*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及晶体振荡器技术领域，具体涉及一种提高温度补偿晶振稳定度的测试方法，包括设置预制参考频率f0接入数字频率比较电路；将需要补偿的VCXO的频率连接数字频率比较器；补偿VCXO的单片机通过ADC采集锁相环输出的比较控制电压和温度传感器的温度值对应关系通过多项式拟合算法运算后进行存储；系统形成控制闭环，频率补偿的VCXO的输出频率f将被补偿到与预设参考频率f0一致；在环境试验温箱中循环步骤S1‑S4，单片机将自动存储温度补偿电压值；将温补VCXO与数字频率比较器断开连接，单片机采集温度值，测试输出频率‑温度特性曲线；本发明实现了温度补偿VCXO输出频率的高稳定度，便于批量化的生产测试，测试简单，效率高而且使用成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提高 温度 补偿 稳定 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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