[发明专利]一种芯片验证方法及装置在审
| 申请号： | 202010430022.7 | 申请日： | 2020-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN111666210A | 公开（公告）日： | 2020-09-15 |
| 发明（设计）人： | 孙向东 | 申请（专利权）人： | 新华三半导体技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06F11/26;G06F11/22 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610000 四川省成都市中国（四川）自由*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种芯片验证方法及装置，上述芯片包括多个CPU，多个CPU包括主控CPU和至少一个从CPU，主控CPU启动至少一个从CPU，获取调试接口列表的入口地址；针对至少一个从CPU中的每个从CPU，将调试接口列表的入口地址发送给该从CPU，以使该从CPU在运行该从CPU对应的验证应用程序时，由所述验证应用程序基于入口地址和需要调用的调试应用程序接口函数的函数标识，从调试接口列表中获取需要调用的调试应用程序接口函数的绝对地址，利用获取到的绝对地址调用对应的调试应用程序接口函数对所述芯片进行验证。由于各个调试API函数并没有写入各个调试API中，从而节省了验证APP的加载时间及运行时间，进而节省了利用各验证APP验证芯片的时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 验证 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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