[发明专利]一种芯片封装结构、TSV互连链路结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202010425056.7 申请日: 2020-05-19
公开(公告)号: CN111477608A 公开(公告)日: 2020-07-31
发明(设计)人: 孙鹏;曹立强;严阳阳 申请(专利权)人: 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司
主分类号: H01L23/528 分类号: H01L23/528;H01L21/768;H01L25/065
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 李静玉
地址: 214135 江苏省无锡市新*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种芯片封装结构、TSV互连链路结构及其制备方法,该TSV互连链路结构包括:至少一对穿透导电通孔;至少一个金属焊盘,每个金属焊盘电连接一对穿透导电通孔;至少一对微凸块,一对微凸块通过一个金属焊盘和一对穿透导电通孔电连接。本发明实施例提供的TSV互连链路结构,通过在金属焊盘的两侧分别设置一对穿透导电通孔和一对微凸块,穿透导电通孔和微凸块之间通过金属焊盘实现电连接,当其中一个穿透导电通孔或微凸块发生故障时,另外的穿透导电通孔或微凸块仍然可以保证电信号的正常传输。因此,本发明实施例提供的TSV互连链路结构,提高了该结构的容错性和良品率,提高了信号传输的可靠性。
搜索关键词: 一种 芯片 封装 结构 tsv 互连 及其 制备 方法
【主权项】:
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