[发明专利]一种硫掺杂的本征多孔磷化镍钴纳米片的制备方法及应用有效
申请号: | 202010423480.8 | 申请日: | 2020-05-19 |
公开(公告)号: | CN111768979B | 公开(公告)日: | 2021-10-29 |
发明(设计)人: | 王育乔;王青青;宋利黎;李东;朱世璠 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | H01G11/30 | 分类号: | H01G11/30;H01G11/26;H01G11/86;H01M4/58;B82Y40/00 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 柏尚春 |
地址: | 211102 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种硫掺杂的本征多孔磷化镍钴纳米片的制备方法及应用,具体包括:a.制备硫掺杂的本征多孔磷化镍钴纳米片;b.将上述制备的硫掺杂的本征多孔磷化镍钴纳米片作为工作电极,铂片为对电极,饱和甘汞电极为参比电极,组成三电极体系进行电化学性能测试。该本征态有效解决了磷化镍钴结构稳定性差的难题。所制备的硫掺杂的本征多孔磷化镍钴纳米片电极在电流密度为1安培/克时的比电容量可以达到2050法拉/克,当电流密度为5安培/克时,进行10000圈循环之后,仍能保持原始容量的85%。 | ||
搜索关键词: | 一种 掺杂 多孔 磷化 纳米 制备 方法 应用 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东南大学,未经东南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010423480.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。