[发明专利]运载体的变形测量方法、装置以及存储介质有效
申请号: | 202010415046.5 | 申请日: | 2020-05-15 |
公开(公告)号: | CN111678451B | 公开(公告)日: | 2022-06-10 |
发明(设计)人: | 杨君;习先强 | 申请(专利权)人: | 天津时空经纬测控技术有限公司 |
主分类号: | G01B11/16 | 分类号: | G01B11/16;G01C1/00 |
代理公司: | 北京万思博知识产权代理有限公司 11694 | 代理人: | 刘冀 |
地址: | 300380 天津市西青区中*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本申请公开了一种运载体的变形测量方法、装置以及存储介质。其中运载体的变形测量方法,包括:在运载体上确定多个参照物,其中每个参照物设置有至少一个测量面(S);确定与参照物的测量面(S)的姿态相关的第一姿态测量信息;根据第一姿态测量信息确定多个参照物的参照物姿态信息;以及根据多个参照物的参照物姿态信息,确定运载体的变形信息。 | ||
搜索关键词: | 运载 变形 测量方法 装置 以及 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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