[发明专利]用于激光剥蚀电感耦合等离子体质谱分析的固体参考物质及定量分析方法有效
| 申请号： | 202010411461.3 | 申请日： | 2020-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN111638262B | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | 张国霞;汪正;李青;陈奕睿;郭琳倩 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 | 代理人： | 郑优丽;牛彦存 |
| 地址： | 200050 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开用于激光剥蚀电感耦合等离子体质谱分析的固体参考物质及定量分析方法。采用待测金属元素为靶材，通过真空离子镀膜法在平整光滑的固体基材表面镀膜以形成待测元素均匀分布的固体参考物质镀膜。与现有激光剥蚀感耦合等离子体质谱分析的固体参考物质及定量分析方法相比，本发明不仅适合于任何基体样品中任何金属元素的检测，而且操作简单，耗时短，最终采用精准计算方法进行定值，数据准确度更高。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 激光 剥蚀 电感 耦合 等离子 体质 谱分析 固体 参考 物质 定量分析 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海硅酸盐研究所，未经中国科学院上海硅酸盐研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010411461.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
