[发明专利]测试机台的校准方法及校准系统在审
申请号: | 202010316796.7 | 申请日: | 2020-04-21 |
公开(公告)号: | CN113534033A | 公开(公告)日: | 2021-10-22 |
发明(设计)人: | 孙宏雨 | 申请(专利权)人: | 圣邦微电子(北京)股份有限公司 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人: | 蔡纯;冯丽欣 |
地址: | 100089 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种测试机台的校准方法及校准系统,校准方法包括:由标准测试源和测试机台的测试源同时测试待测器件的输出参数,获得所述待测器件的输出参数的标准值和测试值;抽样测试多个待测器件的输出参数,获得多个标准值和多个测试值;计算获得所述多个标准值和所述多个测试值的差值的均值,根据所述差值的均值获得校准系数;存储所述校准系数,根据所述校准系数对所述测试机台进行校准。该校准方法能够实现测试机台的快速精确校准,提高了测试效率。 | ||
搜索关键词: | 测试 机台 校准 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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