[发明专利]一种可测力-位移曲线的全自动显微硬度装置在审

专利信息
申请号: 202010214640.8 申请日: 2020-03-24
公开(公告)号: CN111323321A 公开(公告)日: 2020-06-23
发明(设计)人: 胡耀武;张璞;刘胜 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G01N3/40 分类号: G01N3/40;G01N1/28;G01B21/02
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 乐综胜
地址: 430072 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种可测力‑位移曲线的全自动显微硬度装置,包括XY方向运动控制平台、Z方向运动控制平台、控制系统和带硬度头的固定式力传感器,Z方向运动控制平台设置于XY方向运动控制平台上,带硬度头的固定式力传感器布置于Z方向运动控制平台的上方,控制系统分别与带硬度头的力传感器、XY方向运动控制平台和Z方向运动控制平台连接。在测量显微硬度的过程中自动生成力‑位移曲线,并通过对F‑D曲线进行分析,便于得出多种材料性能参数,实现对材料的表征。
搜索关键词: 一种 测力 位移 曲线 全自动 显微 硬度 装置
【主权项】:
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