[发明专利]一种天线近场快速测量方法在审
| 申请号： | 202010195575.9 | 申请日： | 2020-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN111413552A | 公开（公告）日： | 2020-07-14 |
| 发明（设计）人： | 张量;陈明生;孔勐;蒋一凡;俞兴传;万志伟;李启帷;方晨 | 申请（专利权）人： | 合肥师范学院 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 合肥市长远专利代理事务所(普通合伙) 34119 | 代理人： | 金宇平 |
| 地址： | 230000 *** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提出的一种天线近场快速测量系统，包括FPGA、可编程超材料表面和探头；可编程超材料表面放置在探针与待测天线之间；可编程超材料表面包含多个呈二维阵列分布的可重构超材料单元；每一个可重构超材料单元上加载有一个二极管；FPGA通过控制各可重构超材料单元中二极管的通断对可编程超材料表面进行编码；探头获取透射过可编程超材料表面的待测天线的近场数据，并根据近场数据重构待测天线信号。本发明大大提高了测量效率，缩短了测量时间，可以得到良好的辐射重构效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 天线 近场 快速 测量方法 | ||
【主权项】：
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