[发明专利]芯片测试方法及芯片测试系统有效
| 申请号： | 202010193909.9 | 申请日： | 2020-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN111346845B | 公开（公告）日： | 2022-06-24 |
| 发明（设计）人： | 周祥;唐绪伟;钟峰;袁俊;张亦锋;郑挺;郑朝生;袁刚;张会战;辜诗涛;魏强;容承昌;卢旭坤 | 申请（专利权）人： | 广东利扬芯片测试股份有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/344 | 分类号： | B07C5/344;B07C5/36 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 张艳美;王志 |
| 地址： | 523000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种芯片测试方法，用于芯片测试系统，芯片测试系统包括测试机和分类机，测试机包括有多个测试单元，芯片测试方法包括：配置测试机执行：通过各测试单元测试芯片；根据各测试单元的测试结果与预先配置的映射关系生成bin信号；将bin信号传送至分类机；配置分类机执行：接收bin信号；根据预先配置的bin信号与各出料口之间的对应关系将芯片放置在对应的出料口的料盘上；记录芯片在料盘的位置信息，并依据各芯片的位置信息和其对应的bin信号生成map图，实现了将芯片的测试结果细致化，工作人员可以通过map图直接看出芯片在各个测试单元的测试结果和不良品分布详情，以便于作出对应的改善方案。另，本发明还公开一种芯片测试系统。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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