[发明专利]检查装置在审
| 申请号： | 202010191627.5 | 申请日： | 2020-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN111796336A | 公开（公告）日： | 2020-10-20 |
| 发明（设计）人： | 杉本一幸 | 申请（专利权）人： | 株式会社石田 |
| 主分类号： | G01V5/00 | 分类号： | G01V5/00;G01V3/12;G01V13/00;G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 车美灵 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种检查装置。X射线检查装置(1)具备：输送部(5)；X射线照射部(6)；X射线检测部(7)，具有第一线传感器(11)以及第二线传感器(12)；生成部，基于通过各第一元件(11a)检测的电磁波来生成第一透过图像(G1)，并且基于通过各第二元件(12a)检测的电磁波来生成第二透过图像(G2)；计算部，对于多个第一元件以及多个第二元件分别计算使基于第一透过图像的第一元件的第一输出值和基于第二透过图像的与该第一元件相对配置的第二元件的第二输出值一致或者近似的亮度转换函数；以及校正部，基于通过计算部计算出的亮度转换函数来校正各第一元件的第一输出值以及各第二元件的第二输出值中的至少一方。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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